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我想當(dāng)你咨詢超聲波清洗機(jī)廠家的時(shí)候應(yīng)該會(huì)經(jīng)常被問到“您的零件需要清潔到什么程度？”，這是因?yàn)楹芏鄷r(shí)候，我們的客戶，如剛接觸超聲波清洗機(jī)的客戶咨詢冠博仕清洗設(shè)備的時(shí)候就只知道他們需要“干凈”。但由于清潔對(duì)于每種應(yīng)用都是相對(duì)的，因此了解零件清潔度和清潔驗(yàn)證的各種清潔測(cè)試規(guī)范非常重要。
重量/密理博貼片測(cè)試
重量/密理博貼片測(cè)試是尋找清潔后殘留在零件上的微粒的方法。測(cè)試前稱量孔徑(通常為 0.45 μm 或 0.80 μm)的膜濾盤?！扒鍧嵅糠帧钡娜軇┣逑磿?huì)收集過濾盤上的顆粒，然后過濾和稱重。重量差異表征零件上殘留的顆粒量或重量(通常以毫克 - 毫克為單位)
也稱為溶劑萃取測(cè)試，顆粒從零件上沖走并收集在濾膜紙上，可以使用自動(dòng)掃描顆粒計(jì)數(shù)器(例如 Leica 或 Jomesa)進(jìn)行顯微鏡分析，以表征收集的顆粒的大小和數(shù)量。ISO 1632-10 就是這樣一種規(guī)范，它根據(jù)顆粒大小和數(shù)量確定零件的清潔度。
FTIR 測(cè)試
FTIR 測(cè)試(或傅里葉變換紅外光譜)掃描基板樣品的 IR 紅外光譜吸收以確定成分。該測(cè)試方法通常用于測(cè)試零件清洗前后的有機(jī)清潔度。零件通常用溶劑沖洗到測(cè)試基板上，然后通過 FTIR 進(jìn)行掃描。
總有機(jī)碳(TOC) 測(cè)試
總有機(jī)碳(TOC) 測(cè)試表征了土壤的碳負(fù)荷。這樣的測(cè)試可以在零件清潔之前和之后進(jìn)行，以確定零件清潔度的改善，或者也可以在清潔之后進(jìn)行，以確定是否有任何堿性化學(xué)物質(zhì)殘留在零件上。典型的分析測(cè)量總碳 (TC) - 有機(jī)碳 (OC) 和無機(jī)碳 (IC) - 溶解的二氧化碳和碳酸鹽的含量。從總碳中減去無機(jī)碳得到總有機(jī)碳。這種測(cè)試方法也可以有效地確定漂洗水的質(zhì)量。
斷水測(cè)試
無水?dāng)嗔言囼?yàn)或斷水測(cè)試通常是零件清潔度的簡(jiǎn)單和粗略的測(cè)試。破水測(cè)試是一種簡(jiǎn)單而快速的測(cè)試容器、油和其他疏水(防水)薄膜。該測(cè)試常用于新鮮清潔的不銹鋼、鈦、鋼、鋁、黃銅和其他親水性(吸水/親水)金屬，在完全清潔的狀態(tài)下是親水性的。該測(cè)試只是將部件垂直或傾斜地浸入新鮮、干凈的沖洗水中，以尋找完整的“薄片”或水脫落。任何形成而不是片狀的液滴都可能表示油或其他殘留物。
Dyne測(cè)試
Dyne測(cè)試允許確定各種薄膜和通常塑料的表面能。達(dá)因測(cè)試墨水和液體(也稱為電暈測(cè)試液體)可根據(jù)已知的液體表面張力輕松測(cè)量表面能或潤(rùn)濕張力。這種“潤(rùn)濕”對(duì)于涂層和覆蓋工藝至關(guān)重要;如果零件的表面能沒有大大超過覆蓋它的流體/涂層/薄膜的表面張力，潤(rùn)濕將很困難，可能會(huì)導(dǎo)致粘合不良。
金屬的零件清潔測(cè)試
對(duì)于金屬的零件清潔測(cè)試，因?yàn)榻饘俚谋砻婺苓h(yuǎn)高于表面殘留物/污染物的表面能;達(dá)因水平越高，零件越干凈。ASTM D2578 規(guī)定了 DYNE 測(cè)試記號(hào)筆中使用的液體。
電導(dǎo)率沖洗測(cè)試
電導(dǎo)率沖洗測(cè)試只是在沖洗之前、期間和之后在過程中測(cè)試水(通常是去離子水)的電導(dǎo)率/電阻率。漂洗水電導(dǎo)率的變化和穩(wěn)定可以指示漂洗效果
溶劑萃取物電阻率 (ROSE) 測(cè)試
溶劑萃取物電阻率 (ROSE) 測(cè)試方法用于檢測(cè)體離子的存在。零件清潔過程的這一方面涉及使用溶劑溶液將 PCB 或其他基板上的離子吸出并進(jìn)入溶劑溶液。然后可以在確定 PCB 的總離子污染之前和之后分析溶液電阻率，通常以每平方英寸為單位。
離子色譜測(cè)試(IC 測(cè)試)
離子色譜測(cè)試(IC 測(cè)試)將上述 ROSE 測(cè)試更進(jìn)一步，測(cè)量可從 PCB(印刷電路板)和其他基板或部件中提取的總離子成分。熱萃取用于將離子萃取到溶液中;提取后，溶液在離子色譜儀中使用各種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。結(jié)果表明存在的單個(gè)離子種類和每平方英寸的每種離子種類的水平。測(cè)量提取溶液的電導(dǎo)率并表示為電路板每單位面積的氯化鈉當(dāng)量。 IPC-TM-650，方法 2.3.28，電路板的離子分析，離子色譜法詳細(xì)描述了該程序。
白手套或白色擦拭測(cè)試
白手套或白色擦拭測(cè)試 是一種總體清潔定性主觀測(cè)試，使用干凈、干燥的白色擦拭或手套擦拭平坦表面。白色抹布或手套通過目視檢查很容易顯示有色殘留物的污染。由于該方法是定性的，因此通常使用通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)。
